ألتقى سعادة السيد أحمد بن عبد الله الجمال رئيس الهيئة العامة للجمارك، بالسيد فيشال أمين منسق حقوق الملكية الفكرية للولايات المتحدة الأمريكية والوفد المرافق له، وذلك ضمن زيارته للبلاد بهدف مناقشة انفاذ حقوق الملكية الفكرية مع عدد من الجهات الحكومية بالدولة.  

وقد جرى عقد اجتماع لبحث سبل التعاون بين الجانبين فيما يتعلق بالإجراءات والتدابير الجمركية المطبقة لحماية الملكية الفكرية في دولة قطر، ومناقشة آليات انفاذها بما يضمن حقوق شركات التصنيع الكبرى وأصحاب العلامات التجارية المسجلة في الدولة.

جدير بالذكر أن الاجتماع ضم كافة أعضاء الوفد الزائر ، أبرزهم نائب رئيس الأركان بإدارة التجارة الدولية الأمريكية ، وملحق الملكية الفكرية الأمريكي للشرق الأوسط وشمال افريقيا، كما حضر الاجتماع عدد من مدراء الإدارات بالهيئة .